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半導體電源芯片高低溫測試的制冷原理

 更新時間:2020-08-18 點擊量:1541

  半導體電源芯片高低溫測試是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)適合的測試設備, 用于測試材料結構或復合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式,區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結構不同。

 <strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機清潔保養(yǎng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

  制冷工作原理:高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成,其過程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進行熱交換將熱量傳給四周介質(zhì),后制冷劑經(jīng)截流閥絕熱膨脹做功,這時制冷劑溫度降低,此循環(huán)周而復始從而達到降溫之目的。

  半導體電源芯片高低溫測試該產(chǎn)品適用于電子元氣件的性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

半導體電源芯片高低溫測試是航空、汽車、家電、科研等領域適合的測試設備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品,在進行高低溫試驗的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應性,適用于學校、工廠、研位等單位。

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