射流式制冷加熱控溫裝置是應(yīng)用在元器件中給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度，是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估*的儀器設(shè)備。

　　無錫冠亞射流式制冷加熱控溫裝置廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。對(duì)比于傳統(tǒng)的溫箱，射流式制冷加熱控溫裝置有以下幾個(gè)特征:溫度范圍：-120℃ ~ +300℃；升降溫速率非常快速，-55℃～150℃＜10秒；溫控精度：±1℃； 溫度設(shè)置能力：±0.1℃；溫度顯示能力：±0.1℃；較大氣流量：25m3/h；實(shí)時(shí)監(jiān)控被測(cè)IC真實(shí)溫度，實(shí)現(xiàn)閉環(huán)反饋，實(shí)時(shí)調(diào)整氣體溫度；升降溫時(shí)間可控，可程序化操作、手動(dòng)操作、遠(yuǎn)程控制。

　　射流式制冷加熱控溫裝置應(yīng)用于需要快速升/降溫的應(yīng)用場(chǎng)合，針對(duì)PCB板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊)，將其隔離出來單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)load board上的IC進(jìn)行溫度循環(huán)/沖擊；傳統(tǒng)溫箱無法針對(duì)此類測(cè)試，對(duì)整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度。

　　射流式制冷加熱控溫裝置應(yīng)用的集成電路的封裝多種多樣,但常見的有金屬外殼,陶瓷外殼,塑料外殼等,有圓型扁平型.管腳排列次序一般是從外殼頂部向下看,按逆時(shí)針方向讀數(shù),其中一腳為標(biāo)記附近的腳。

　　射流式制冷加熱控溫裝置實(shí)際應(yīng)用的行業(yè)比較廣，用戶在元器件行業(yè)中需要測(cè)試設(shè)備的話歡迎聯(lián)系無錫冠亞射流式制冷加熱控溫裝置廠家。（本文來源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系無錫冠亞刪除，謝謝。）